+7 495 221 28 50

Комплекс решений для защиты от контрафактных компонентов

12 июня, 2013 - 10:12 -- Theodore Krekoten
Русский

Специализируясь в области контроля качества изделий электроники более 20 лет, группа компаний «Совтест» разработала комплекс решений для одной из наиболее актуальных проблем современной электронной промышленности, связанной с использованием контрафактных компонентов. Подробно о них представители компании рассказали во время выступления на семинаре «Защита от контрафактных электронных компонентов», который объединил порядка 80 специалистов крупнейших приборостроительных предприятий России.

Первый доклад «Современные методы тестирования электронной компонентной базы (ЭКБ)» представил Игорь Приходько, технический директор ООО «Совтест АТЕ». В рамках его выступления была не только подчеркнута важность и актуальность проблемы – ведь сегодня многие отечественные производители электроники не понаслышке знают о вреде использования контрафактных компонентов, – но также предложен комплекс решений с практическими примерами выявляемых дефектов. В рамках углубленного рассмотрения методов тестирования ЭКБ были сформированы готовые технические решения (на основе оборудования зарубежных производителей, а  также систем собственной разработки и производства) по следующим направлениям:

  1. Неразрушающий контроль
  • Ультразвуковая инспекция
  • Рентгеновский контроль
  • Автоматическая оптическая инспекция
  1. Электрические методы контроля
  • Параметрический и функциональный контроль

Со вторым докладом «Новый этап развития отечественных контрольно-измерительных систем – тестер  FT-17HF производства ООО «Совтест АТЕ» выступил Федор Крекотень, генеральный директор ООО «Совтест Микро» (прим.: дочерняя компания ООО «Совтест АТЕ»). Для участников семинара была обоснована актуальность функционального и параметрического контроля микросхем, освещены проблемы применения импортного контрольно-измерительного оборудования, а также представлены преимущества использования оборудования отечественного производства, в частности – тестовой системы FT-17HF для параметрического и функционального контроля ИМС широкой номенклатуры. Решение было разработано проектной командой инженеров «Совтест АТЕ» и «Совтест Микро» с учетом специфики и производственных требований российских промышленных предприятий. Именно этот фактор в сочетании с широкими техническими возможностями, высокой надежностью и оптимальной стоимостью обуславливает сегодня немалый интерес потребителей к данной системе.

   

По результатам мероприятия участниками семинара «Защита от контрафактных электронных компонентов» была отмечена высокая практическая ценность докладов представителей «Совтест АТЕ». Подтверждает это и собственный опыт предприятия, ведь компания успешно применяет предлагаемые ею решения на своем производстве. В частности, для входного контроля используется система машинного зрения FT-VISION, тестовая система с подвижными пробниками Pilot V8, цифровые и стереомикроскопы, а также рентгеноскопическая система от фирмы Nikon.  Организован участок тестирования и испытаний, где проводится автоматическая оптическая инспекция, функциональный контроль производственных дефектов. Таким образом, тщательный контроль на всех этапах производственного процесса позволяет отслеживать качество продукции «Совтест АТЕ» и при необходимости своевременно вносить коррективы для его улучшения.

Если Вас интересует более подробная информация о решениях группы компаний «Совтест» для тестирования электронной компонентной базы, присылайте свой запрос на электронную почту info@sovtestmicro.ru.

 

Знаете ли Вы?

Генеральный директор ООО «Совтест Микро» занял второе место в конкурсе «Самый предприимчивый москвич», который уже в десятый раз проводит информационно-аналитическая программа «Деловая Москва». Критерии оценки неизменны: оригинальность бизнес-идеи, инновационный ресурс, создание новых рабочих мест, конкурентоспособность на отечественном рынке.