+7 495 221 28 50

Группа компаний «Совтест» приняла участие в проекте по тестированию универсальных электронных карт

19 июля, 2013 - 14:27 -- Theodore Krekoten
Русский

В результате кооперации специалистов ООО «Совтест АТЕ» и ООО «Совтест Микро» успешно завершены разработка и внедрение в производственный процесс ОАО «НИИМЭ и Микрон» опытного стенда для контроля чипов универсальных электронных карт (УЭК) на полупроводниковых пластинах. Управление и программирование стендом осуществляется с помощью универсальной программной платформы XperTest, которая также является собственной разработкой группы компаний «Совтест».

Данный проект был выполнен по заказу ОАО «НИИМЭ и Микрон», который первым из производителей микросхем получил положительное заключение от федеральной уполномоченной организации ОАО «УЭК», допускающее использование его чипов для выпуска универсальных электронных карт (УЭК). После проведённой проверки чип-модуля «Микрона» со встроенной операционной системой и с предустановленными идентификационным и платежным приложениями ведомство пришло к выводу, что представленное решение соответствует требованиям единой платёжно-сервисной системы «Универсальной электронной карты» и спецификации идентификационного приложения УЭК. В результате карточная платформа «Микрона» была внесена в реестр карточных платформ УЭК.

    

Процесс сборки чип-модуля на ОАО «НИИМЭ и Микрон»

Специализируясь в области тестового оборудования уже более 20 лет, группа компаний «Совтест» имеет ряд собственных перспективных решений для контроля качества изделий микроэлектроники, одно из которых и было предложено для тестирования чипов УЭК. Помимо разработки и поставки оборудования специалисты компании оказывают комплексную поддержку, включая ввод систем в эксплуатацию, обучение работе с оборудованием, разработку и установку ПО, сервисное обслуживание. Таким образом, при минимальных усилиях заказчиков достигается максимальный эффект от использования оборудования.

 

Знаете ли Вы?

 

Первой совместной разработкой специалистов ООО «Совтест АТЕ» и ООО «Совтест Микро» в области контроля качества изделий микроэлектроники является тестовая система для функционального и параметрического контроля ИС широкой номенклатуры FT-17HF. На сегодняшний день по своим техническим характеристикам данное оборудование не имеет аналогов отечественного производства.